Advanced Wafer Level Technologies
Foto: © Infineon Technologies Austria AG
Zielsetzung
Entwicklung einer innovativen Modellierungs- und MEMS-Design-Toolbox für die fortschrittliche Wafer-Level-MEMS-Integration, um folgende Bereiche zu optimieren:
- TPMS-Sensoren der nächsten Generation (TPMS = Tire Pressure Monitoring System/Reifendruck-Überwachungssystem)
- Innovatives Design und Mikrofabrikations-Technologien von MEMS-Devices
- Wafer-Level-Integrationsprozess
Die wichtigsten Herausforderungen und Forschungsthemen sind:
- Modellierung der Auswirkungen des „Anodic Bonding" Prozesses auf das TPMS
- Modellierung der Ladungsverteilung im und auf dem strukturierten Glas-Wafer
- Modellierung der Empfindlichkeit von elektrischen Ladungen auf piezo-resistive MEMS-Beschleunigungssensor-Strukturen
- Vorhersage der Einflussfaktoren von Wafer-Level-MEMS-Technologien auf etwaige zukünftige TPMS-Designs
ERWARTETE ERGEBNISSE
- Vorhersage der Einflussnahme von Wafer-Level-Technologien auf TPMS-Sensoren
- Auswirkungen des „Anodic Bonding" Prozesses auf das TPMS-MEMS-Design der nächsten Generation
- Entwicklung eines fortschrittlichen Simulations-Tools für die Wafer-Level-MEMS-Integration
- Optimierung von Wafer-Level-Prozess-Technologien
Ihr Ansprechpartner
Dr. Mohssen Moridi
Head of Research Division| Microsystems